掃描電鏡（SEM）通常使用硅片作為樣品支撐基底，因?yàn)楣杵幸韵聨讉€優(yōu)點(diǎn)：

導(dǎo)電性好：硅片是一種導(dǎo)電性能良好的材料，可以避免由于樣品表面電荷積聚而產(chǎn)生的干擾信號。

高穩(wěn)定性：硅片的物理性質(zhì)穩(wěn)定，尺寸精度高，不易受溫度、濕度等環(huán)境因素的影響，可以保證SEM成像的穩(wěn)定性。

平整度好：硅片表面平整度高，可以避免樣品在成像過程中出現(xiàn)的高低起伏或者其他不規(guī)則形狀的干擾信號。

顯微分辨率高：硅片表面非常光滑，可以提高SEM的顯微分辨率，讓成像效果更加清晰。

除硅片之外，其他材料，如金屬網(wǎng)格、碳膜等，也可以作為SEM的樣品支撐基底。不同的材料適用于不同類型的樣品，選擇適合的樣品支撐基底可以提高SEM成像的效果。

以上就是澤攸科技小編對掃描電鏡樣品支撐基底為什么用硅片的介紹。更多掃描電鏡信息及價格請咨詢