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掃描電鏡如何找到想要觀察的位置？

以下是掃描電鏡幾種核心方法和操作技巧，結(jié)合使用可以找到目標(biāo)：

掃描電鏡圖像模糊是一個(gè)常見(jiàn)問(wèn)題，通常可以通過(guò)一系列系統(tǒng)性的調(diào)整來(lái)解決。

掃描電鏡中，導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品的處理方法有根本性的區(qū)別，核心原因在于如何應(yīng)對(duì) “電荷積累” 問(wèn)題。

掃描電鏡的放大倍數(shù)實(shí)現(xiàn)方式與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡有根本性的不同，它并不是通過(guò)透鏡的組合來(lái)“放大”圖像。

掃描電鏡（SEM）圖像出現(xiàn)整體或局部發(fā)白，通常意味著信號(hào)過(guò)強(qiáng)、表面帶電、或探測(cè)設(shè)置異常。

在掃描電鏡拍攝中，樣品是否需要導(dǎo)電，取決于樣品的材質(zhì)、觀察模式和顯微鏡類型。

在掃描電鏡拍照過(guò)程中出現(xiàn)拖影，通常表現(xiàn)為圖像邊緣模糊、結(jié)構(gòu)拉伸或重復(fù)陰影，這種現(xiàn)象往往與樣品、電子束或掃描設(shè)置有關(guān)。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，正確找到焦點(diǎn)（焦平面）是獲得清晰圖像的關(guān)鍵步驟。