大多數(shù)掃描電鏡（SEM）的樣品臺都具備旋轉和傾斜功能，目的是為了更靈活地觀察樣品不同角度的結構。具體情況如下：

1. 樣品臺旋轉

水平旋轉（旋轉軸）：樣品可以繞垂直軸旋轉，方便掃描整個樣品表面而無需移動樣品。

用途：對比不同區(qū)域、拍攝全景、實現(xiàn)多視角成像。

旋轉范圍：一般 360° 連續(xù)旋轉，部分 SEM 有限制角度或步進旋轉。

2. 樣品臺傾斜（傾角/俯仰角）

傾斜軸：樣品可以繞水平軸傾斜一定角度。

用途：

觀察樣品側面結構或微小凹凸。

進行金相分析或斷面觀察。

優(yōu)化二次電子（SE）或背散射電子（BSE）信號對比。

傾斜范圍：通常 ±30° 到 ±70°，一些型號可達 ±90°。

3. 注意事項

傾斜后樣品高度會改變，需要重新調整工作距離（WD） 和 聚焦。

傾斜角度過大可能導致 樣品碰到腔壁或探頭，要小心操作。

重量或形狀不規(guī)則的樣品傾斜時要保證固定穩(wěn)固，避免脫落。