在掃描電子顯微鏡（SEM） 中，圖像的清晰度和可分析性很大程度上取決于 噪聲控制和對(duì)比度調(diào)整。下面我給你整理了一個(gè)系統(tǒng)的方法：

1. 噪聲來源

掃描電鏡圖像噪聲主要來源于：

電子束統(tǒng)計(jì)噪聲：電子數(shù)量有限導(dǎo)致信號(hào)隨機(jī)波動(dòng)

檢測(cè)器本身噪聲：SE 或 BSE 檢測(cè)器固有噪聲

環(huán)境干擾：震動(dòng)、電磁干擾、真空波動(dòng)

2. 降低噪聲的操作技巧

調(diào)整加速電壓

較低加速電壓可減少樣品損傷，但信號(hào)弱，噪聲高

適中電壓平衡分辨率和信噪比（通常 5–20 kV，根據(jù)樣品導(dǎo)電性）

增加信號(hào)累積時(shí)間（掃描速度）

慢掃描：每個(gè)像素采集更多電子 → 信噪比提高

快速掃描 → 噪聲大，但可避免樣品充電或漂移

幀平均 / 多幀累加

對(duì)動(dòng)態(tài)噪聲，連續(xù)采集多幀圖像后平均，可顯著降低隨機(jī)噪聲

檢測(cè)器選擇與優(yōu)化

SE → 邊緣細(xì)節(jié)清晰

BSE → 物質(zhì)對(duì)比明顯

適當(dāng)調(diào)整 探測(cè)器增益，避免信號(hào)過弱或過飽和

樣品處理

導(dǎo)電處理（鍍金、碳）可減少充電噪聲

表面平整度高 → 信號(hào)穩(wěn)定，噪聲小

3. 對(duì)比度與亮度調(diào)整技巧

實(shí)時(shí)調(diào)整

在 SEM 控制面板上調(diào)節(jié) 亮度（Brightness） 與 對(duì)比度（Contrast）

亮度 → 調(diào)整體灰度平均值

對(duì)比度 → 調(diào)整暗區(qū)與亮區(qū)的灰度跨度

直方圖法

觀察圖像灰度直方圖

拉伸主要信號(hào)區(qū) → 提高對(duì)比度

避免過度拉伸 → 亮區(qū)或暗區(qū)飽和

后處理軟件優(yōu)化

使用 ImageJ、Photoshop 或 Igor Pro 調(diào)整對(duì)比度

可配合 噪聲濾波（中值濾波、低通濾波） 保留結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。